KURZMELDUNG

Die Atome im Blick

Mikrochips werden immer winziger. Viele Vorgänge finden dabei auf atomarer Ebene statt – und über diese weiss man noch wenig. Nun haben PSI-Forscher einen Meilenstein erreicht.

PSI researcher Cristian Svetina at the experiment station of the SwissFEL, Switzerland's X-ray free-electron laser.

Forschern am Paul Scherrer Institut PSI ist gelungen, was Wissenschaftler weltweit für unmöglich hielten: mittels Röntgenlaser in Werkstoffe hineinzusehen und hochauflösende Videos von atomaren Vorgängen aufzunehmen.

Nach solchen Verfahren besteht zunehmend Bedarf, da die Strukturen von Mikrochips immer winziger werden: Mittlerweile würden ganze Enzyklopädien auf fingernagelgrosse magnetische Scheiben geschrieben, heisst es in einer Mitteilung des PSI. «Wenn man aber die technische Miniaturisierung weitertreiben will, muss man solche Phänomene auf atomarer Ebene verstehen.»

Möglich macht das eine Methode mit der Bezeichnung Transient Grating Spectroscopy. Neu ist die Methode nicht – das Besondere ist die Kombination und Erweiterung bekannter Methoden aus der nichtlinearen Laserphysik mit dem Röntgenlicht aus dem neuen Freie-Elektronen-Röntgenlaser SwissFEL.

«In dieser Kombination ist das sowohl neu als auch überraschend», so das PSI. Zahlreiche andere Forscherteams weltweit hätten erfolglose Versuche damit unternommen. Schliesslich wurde sogar angezweifelt, dass diese neuen Experimente bei den hohen Energien von Röntgenstrahlung überhaupt erfolgreich sein können. «Das Team am PSI hat bewiesen: Ja, es geht.»

Text: sda

Fotografie: PSI

Lesen Sie auch